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體積表面電阻率對(duì)測(cè)試樣品有哪些要求

更新時(shí)間:2025-10-29      點(diǎn)擊次數(shù):188
體積表面電阻率測(cè)試樣品需滿足以下要求:
  • 形狀與尺寸:樣品需平整均勻,厚度通常為1~5mm,尺寸需滿足電極要求(如直徑≥100mm);若過薄需疊加多層避免擊穿

  • 表面處理:清除油污、氧化層及污染物(如用無(wú)水乙醇擦拭),必要時(shí)輕磨表面確保清潔

  • 尺寸測(cè)量:用精度≤0.01mm的卡尺測(cè)量厚度、寬度、長(zhǎng)度等參數(shù)

  • 預(yù)處理:在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境(23±1℃、50±5%RH)中調(diào)節(jié)至少24小時(shí),消除溫濕度影響

  • 材質(zhì)要求:材料需均勻,避免內(nèi)部不均導(dǎo)致電流分布異常;特殊材料需干燥或清潔預(yù)處理

  • 環(huán)境控制:測(cè)試時(shí)維持恒溫恒濕(如23±2℃、50±5%RH),記錄實(shí)際溫濕度

  • 材料不能重復(fù)測(cè)試,避免存在電荷,影響數(shù)值


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